Berührungslose Messung von Abstand und Schichtdicke
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Die hohe Messgenauigkeit und die robuste Bauweise des Messkopfes sowie die
Unabhängigkeit der Messung von der Beschaffenheit der Objektoberfläche ermöglichen den
Einsatz des CHR 150 E sowohl im Labor als auch in der Industrie.
Eigenschaften
- Eine Abtastrate von 1 kHz bei einer Auflösung von 10 nm bei 300 µm
Messbereich
- Großer Einstellwinkel des Messkopfes auch bei spiegelnden Oberflächen (90° ±
30°)
- Weißlicht-Messung (keine Messergebnisverfälschung durch Speckle-Muster)
- Keine Abschattung da konfokales Messprinzip
- Typische Anwendungen:
- Vermessung von Oberflächen und transparenten
Schichten
- Topografiemessung an Mikrostrukturen
- Integration in automatische Messsysteme nach Kundenanforderung
Weitere Informationen:
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